Atom-forta mikroskopo

El Vikipedio, la libera enciklopedio
Jump to navigation Jump to search
Atom-forta mikroskopo maldekstre, kun kontrola komputilo destre (foto de 2007)

La atom-forta mikroskopo (AFM) estas tre detala analiza ilo el nova generacio. Temas pri speco de tunel-efika mikroskopo (aŭ skantunela mikroskopo, STM), kiuj komence de la 21-a jarcento refortigis la intereson pri koloida scienco kaj antaŭenigis la nanoteknologion. Atom-forta mikroskopo diferencigas frakciojn de nanometro, pli ol mil-foje pli detale ol difrakto-limigitaj optikaj sistemoj. Piezoelektraj elementoj faciligas etajn sed precizajn movojn je (elektra) komando kiuj ebligas tre precizan skanadon de la esplorata objekto.